Представлена новая серия биполярных источников питания АКИП-1404.Инженеры-разработчики успешно обобщили свой многолетний опыт в разработке и проектировании электронных схем, приборов и силовых устройств для создания источников питания постоянного тока для различных сценариев высоковольтных испытаний.
Серия импульсно-программируемых источников питания постоянного тока АКИП-1404 обеспечивает максимальное выходное напряжение ±10кВ и разрешение понапряжению/току0,1 В/0,1 мкА. Корпус источника питания высотой 2U(1/2стойки)не только поддерживает настольные приложения, но и обеспечивает возможность удобного размещения устройства в стандартном 19-дюймовом шкафу для простой интеграции в систему.
Большой ЖК-дисплей с высоким разрешением позволяет пользователю легко считывать воспроизводимые параметры и отображать подробную информацию о тестировании и текущем состоянии работы источника питания.
В целях безопасности серия АКИП-1404 не имеет выходных гнезд на передней панели. Функциональные клеммы питания для высоковольтного интерфейса (Com/High OUT +/-) перенесены на заднюю панель. Аналоговый порт программирования (Ext Progr)и интерфейс контроля напряжения/тока (Monitoring)так-же расположены на задней панели. Источник имеет порт LAN и интерфейс RS232, который поддерживает команды SCPI и при использовании коммуникационного преобразователя NE101, системную шину IEEE-488.Эти стандартные интерфейсы могут быть использованы для создания автоматизированных систем высоковольтных испытаний.
Низкий уровень выходных шумов очень важен для источников питания: в вариантах АКИП-1404/1 и АКИП-1404/2 пульсации напряжения выходного сигнала не превышают 3 мВс.к.з. Такой минимум крайне необходим в чувствительных измерительных приборах и системах при измерении токов утечки или тестировании ИУ с высоким удельным сопротивлением.
Новые продукты могут быть востребованы при тестировании высоковольтного оборудования, приборов и материалов в области физики высоких энергий. В этих областях требуются источники питания, поддерживающие генерацию высоких напряжений и стабильных малых токов. Они так-же необходимы для испытаний IGBT-устройств на диэлектрический пробой и для тестирования изоляционных материалов.