X-STRATA 920 - толщиномер для контроля толщины многослойных покрытий и определения химического состава

Толщиномер X-STRATA 920 - это рентгено-флюоресцентная система с возможностью микрофокусировки для неразрушающего контроля, быстрых анализов примесных материалов, измерения толщин многослойных покрытийи элементного состава в широком спектре материалов, измеряемые элементы от Ti22 до U92.

Примеры применения X-STRATA 920:

1. Производство электроники и электронных компонентов

• Определение химического состава и толщины покрытий
• Измерение толщины слоя Au и Pd на контактах печатных плат
• Измерение толщины слоя химического никеля на жестких дисках
• Анализ очень тонких слоев покрытия (Au/Pd< 0,1 мкм)

2. Нанесение защитных покрытий в различных отраслях промышленности

• Послойное измерение толщины по 5 слоям (4 слоя покрытия + основание)
• Одновременно анализ химического состава по 25 элементам
• Анализ гальванических растворов

3. Анализ химического состава металлов и сплавов

• Быстрый, неразрушающий анализ химического состава изделий из драгоценных металлов (Au, Ag, Pt, Pd и т.д.)
• Анализ химического состава цветных сплавов (Cu, Zn и т.д.

• Неразрушающий анализ толщины многослойных покрытий и определение химического состава без предварительной подготовки поверхности
• Возможность работы в режиме 24/7
• 100 % входной контроль
• Быстрый, точный, надежный
• Диапазон измеряемых элементов от Ti до U
• Послойное измерение толщины по 5 слоям (4 слоя покрытия + основание)
• Одновременно анализ химического состава по 25 элементам
• Анализ покрытия в заданных точках поверхности

• Анализ маленьких образцов площадью от 150 мкм.
• Анализ растворов
• Анализ покрытий на образцах неровной формы (печатные платы, проволока и т.д.)
• Обнаружение вредных примесей на уровне 10-3 – 10-4 %
• Экспорт результатов в Excel, Программа для создания отчетов
• Гибкое программное обеспечение на базе Метода Фундаментальных Параметров SmartLink® FP на базе платформы Windows® XP, со встроенным генератором отчетов Report Generator LE
• Измерение толщины до 5 слоев (4 слоя плюс основа) / 15 элементов / межэлементная коррекция
• Одновременный анализ до 25 химических элементов
• Аналитические методы в соответствии с ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 и IEC 62321
• Oxford Instruments самостоятельно изготавливает рентгеновскую трубку мощностью 50W (вольфрам) которая сочетает в себе высокую стабильность, более короткое время измерения, надежность и длительный срок жизни.
• Высокое разрешение Xe пропорционального детектора обеспечивает оптимальную эффективность счета на любых уровнях энергий и улучшает диапазон обнаружения элементов
• 4096 каналов цифрового многоканального анализатора обеспечивают высокую скорость проходящего сигнала, коррекцию времени простоя и пульсаций для лучшей статистики измерений
• Термическая стабилизация и программная функция Spec-Cal, возможность внутреннего тестирования и автоматическая коррекция, обеспечивают хорошую стабильность во времени
• Коллиматор 0,3 мм обеспечивает оптимальную фокусировку потока, расширяя возможности измерения (заказывается дополнительно)
• Приспособление для первичной фильтрации оптимизирует условия возбуждения и улучшает соотношений сигнал/шум
• Лазер автоматически определяет правильное положение фокуса по оси Z на определенном расстоянии от анализируемой поверхности, улучшая тем самым точность результата
• Размеры измерительного стола: 560 мм х 600 мм, максимальная высота образца 33 мм (возможно 160 мм)
• Oxford Instruments поставляет сертифицированные стандарты (по толщинам) обеспечивая надежность результатов
• Надежный и прочный корпус позволяет эксплуатировать анализатор в производственных условиях
• Компактный дизайн позволяет разместить анализатор на небольшой рабочей поверхности
• Сервисная поддержка по всему миру осуществляется экспертами в области рентгеновской флюоресценции
• Анализатор является высочайшим достижением за более чем 25-ти летний опыт работы Oxford Instruments.