OBLF QSN 750-II - оптико-эмиссионный спектрометр

Описание OBLF QSN 750-II
Преимущества оптико-эмиссионного спектрометра QSN750-II
- долговременная стабильность, сходимость и воспроизводимость результатов анализа
- анализ ультранизких концентраций углерода
- искровой штатив с двумя электродами
- низкий расход аргона (без тока аргона в режиме ожидания)
- программное обеспечение на русском языке
Описание оптико-эмиссионного спектрометра QSN750-II
Вакуумный искровой оптико-эмиссионный спектрометр QSN750-II (анализатор металлов и сплавов) может быть использован как одно- или много-матричный.
QSN750-II имеет широкое поле применений не только при производстве металла в промышленном производстве, но и при испытании материалов в исследовательских институтах. Интегрирующая электроника и фотоэлектронные умножители, подобранные согласно спецификации заказчика, помещены в оптическую камеру, и таким образом защищаются от внешних воздействий. Температурная стабилизация оптики и импульсный цифровой генератор GDS гарантируют высокую степень воспроизводимости сигналов и аналитическое постоянство. Конструкция легко разбираемого самоочищающегося патентованного искрового штатива и входного окна оптической камеры позволяют пользователю обслуживать их без затруднений. Использованный аргон очищается фильтром.
При использовании мультиматричных систем для огромного числа аналитических задач может возникать большое число аналитических программ. Для таких сложных систем программное обеспечение спектрометра, называемое OBLFwin, предусматривает пронумерованные обособленные программы, всесторонне отвечающие потребностям заказчика. В дополнение существует автоматический выбор программы, упрощающий назначение правильной программы анализа. В зависимости от приложения,- какой материал определяется,- измеренные значения появляются на экране приблизительно через 16-30 секунд после начала процесса измерения и могут быть распечатаны, переданы по сети или обработаны позднее.
Искровой штатив с двумя электродами (опция). На спектрометре OBLF со стандартным искровым штативом время анализа с двумя обыскриваниями, включая анализ азота, составляет 36 сек. При использовании искрового штатива с двумя электродами время анализа сокращается до 19 сек. Необходима только одна продувка. Предобжиг производится одновременно на обоих электродах попеременно, перемещение образца не требуется.
Характеристики OBLF QSN 750-II
Параметр | Значение |
Оптическая схема Пашена-Рунге | 750 мм |
Разрешение дифракционной решётки | 2400 линий/мм |
Обратная дисперсия для 1-го порядка | 0,55 нм/мм |
Диапазон длин волн | 120-800 нм |
Частота искрового разряда | 1 - 1000 Гц |
Чистота аргона | 99,998 % |
Расход аргона на один прожиг в Fe-матрице | макс. 2,4 л |
Расход аргона во время ожидания | капиллярный |
Габариты прибора | 1040 х 900 х 1300 мм |
Вес нетто | 550 кг |
Комплектация OBLF QSN 750-II
Расходные материалы в комплекте поставки
№ | Наименование | Количество |
1 | Вакуумное масло - 1 литр | 1 |
2 | Электрод вольфрамовый | 3 |
3 | Изоляционная пластина | 1 |
4 | Щеточка для чистки электрода | 5 |
5 | Набор уплотнительных колец | 1 |
6 | Набор предохранителей | 1 |
7 | Фильтр для вентилятора 21 x 21 см | 2 |
Документация для OBLF QSN 750-II
Отзывы на OBLF QSN 750-II
По данному товару нет отзывов.
Вопрос-ответ на OBLF QSN 750-II
По данному товару нет вопросов.